X荧光光谱仪X荧光光谱仪操作时不得不注意_X荧光光谱仪
X荧光光谱仪(XRF)主要由激发源X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。Ras检测VBA
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：Ras检测VBA
λ=K(Z-s)-2Ras检测VBA
式中K和S是常数。Ras检测VBA
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：Ras检测VBA
E=hν=hC/λRas检测VBA
式中，E为X射线光子的能量，单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。Ras检测VBA
因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。Ras检测VBA
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X荧光光谱仪X荧光光谱仪技术原理_X荧光光谱仪
X荧光光谱仪的原理及应用
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。
技术原理：
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长与元素的原子序数有关。
根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量。因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析
产品应用：
X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得较多也较为广泛泛,它已然成为这些领域的常用检测设备了。Ras检测VBA
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