使用金相显微镜系列配合起偏，检偏及DIC微分干涉，可以很好的观察屏的导电粒子，确认导电粒子个数是否符合要求。 首先，需要观察导电粒子必须要有配有DIC 及起偏检偏器的金相显微镜。对于观察导电粒子
使用金相显微镜系列配合起偏，检偏及DIC微分干涉，可以很好的观察屏的导电粒子，确认导电粒子个数是否符合要求。
首先，需要观察导电粒子必须要有配有DIC 及起偏检偏器的金相显微镜。对于观察导电粒子来说一般选用的镜头是要求为不超过20倍为可以，超过后会由于景深的问题导致观察效果模糊，无法观察到可以的效果。
准备好金相显微镜及必要的屏后就可以开始观察导电粒子了。首先把DIC及起偏检偏拉出，然后把屏放置在载物台上，调整好焦距，通过载物台移动后找到观察位置。现在插入起偏及检偏器，通过目镜观察屏上位置，再调节检偏器，直到光线最黑时停止调节检偏器。最后插入DIC,调节DIC进行偏光直到看到导电粒子清晰时就可以停止了。
以上就是使用金相显微镜观察导电粒子的简单方法！yu0检测VBA
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液晶检查显微镜专为LCD行业TFT玻璃COG导电粒子检查以及6英寸及以下的集成电路硅片在线检查和实验室分析设计。具有成像清晰，工作距离长，使用便利，应用软件丰富的特点。是一款性价比非常的半导体及微电子工业与科研用显微镜，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。
液晶检查显微镜可以自己配备特殊备件和附件，重要的是，使用者可以根据自己的需要变换小型工具显微镜的放大倍数。配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场无限远长工作距离明暗场物镜、大视野目镜、图像清晰，衬度好。液晶检查显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为上等工业显微镜使用。可进行明暗场观察、落射偏光、DIC观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对硅片、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。
